GB/T 42975-2023 英文版, GB/T 42975-2023 半导体集成电路驱动器测试方法 - GB/T 42975-2023, GB 42975-2023, GBT 42975-2023, GB/T42975-2023, GB/T 42975, GB/T42975, GB42975-2023, GB 42975, GB42975, GBT42975-2023, GBT 42975, GBT42975

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GB/T 42975-2023 半导体集成电路驱动器测试方法 (英文)
标准编号:	GB/T 42975-2023	标准状态:	valid 订阅状态变动提醒电子邮箱:
翻译语言:	英文	实施日期:	2024-1-1

标准编号:	GB/T 42975-2023
中文名称:	半导体集成电路驱动器测试方法
英文名称:	Semiconductor integrated circuits—Test method of driver device
中标分类:	L56 半导体集成电路
行业分类:	GB 国家标准
ICS分类:	31.200 31.200 集成电路、微电子学 31.200
发布机构:	国家市场监督管理总局国家标准化管理委员会
发布日期:	2023-9-7
实施日期:	2024-1-1
标准状态:	valid
翻译语言:	英文

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