| 标准编号 |
标准名称 |
交付时间 |
标准状态 |
| GB/T 44807.3-2025 |
集成电路电磁兼容建模 第3部分：集成电路电磁干扰特性仿真模型 辐射发射建模（ICEM-RE） |
1~10 个工作日 |
to be valid,,2026-7-1 |
| GB/T 44807.2-2025 |
集成电路电磁兼容建模 第2部分：集成电路电磁干扰特性仿真模型 传导发射建模（ICEM-CE） |
1~10 个工作日 |
to be valid,,2026-4-1 |
| GB/T 42968.9-2025 |
集成电路 电磁抗扰度测量 第9部分：辐射抗扰度测量 表面扫描法 |
1~5 个工作日 |
valid,,2025-12-2 |
| T/SZAA 002-2024 |
车身域控制器通用功率驱动装置测试规程 |
个工作日 |
valid,,2024-11-30 |
| GB/T 44807.1-2024 |
集成电路电磁兼容建模 第1部分：通用建模框架 |
1~5 个工作日 |
valid,,2024-10-26 |
| GB/T 44806.1-2024 |
集成电路 收发器的EMC评估 第1部分：通用条件和定义 |
1~3 个工作日 |
valid,,2024-10-26 |
| GB/T 44801-2024 |
系统级封装（SiP）术语 |
1~5 个工作日 |
valid,,2024-10-26 |
| GB/T 44798-2024 |
复杂集成电路设计保证指南 |
1~5 个工作日 |
valid,,2024-10-26 |
| GB/T 44795-2024 |
系统级封装（SiP）一体化基板通用要求 |
1~5 个工作日 |
valid,,2024-10-26 |
| GB/T 44777-2024 |
知识产权（IP）核保护指南 |
1~5 个工作日 |
valid,,2024-10-26 |
| GB/T 43034.2-2024 |
集成电路 脉冲抗扰度测量 第2部分: 同步瞬态注入法 |
1~5 个工作日 |
valid,,2024-10-26 |
| GB/T 42968.2-2024 |
集成电路 电磁抗扰度测量 第2部分：辐射抗扰度测量 TEM小室和宽带TEM小室法 |
1~5 个工作日 |
valid,,2024-10-26 |
| GB/T 20870.4-2024 |
半导体器件 第16-4部分：微波集成电路 开关 |
1~5 个工作日 |
valid,,2024-10-26 |
| GB/T 42744-2023 |
微波电路 电调衰减器测试方法 |
1~5 个工作日 |
valid,,2024-3-1 |
| GB/T 43034.3-2023 |
集成电路 脉冲抗扰度测量 第3部分：非同步瞬态注入法 |
1~5 个工作日 |
valid,,2024-1-1 |
| GB/T 42974-2023 |
半导体集成电路 快闪存储器（FLASH） |
1~3 个工作日 |
valid,,2024-1-1 |
| GB/T 42975-2023 |
半导体集成电路 驱动器测试方法 |
1~5 个工作日 |
valid,,2024-1-1 |
| GB/T 42973-2023 |
半导体集成电路 数字模拟（DA）转换器 |
1~5 个工作日 |
valid,,2024-1-1 |
| GB/T 42970-2023 |
半导体集成电路 视频编解码电路测试方法 |
1~5 个工作日 |
valid,,2024-1-1 |
| GB/T 42969-2023 |
元器件位移损伤试验方法 |
1~3 个工作日 |
valid,,2024-1-1 |
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