GB/T 32188-2015 英文版, GB/T 32188-2015 氮化镓单晶衬底片x射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法 - GB/T 32188-2015, GB 32188-2015, GBT 32188-2015, GB/T32188-2015, GB/T 32188, GB/T32188, GB32188-2015, GB 32188, GB32188, GBT32188-2015, GBT 32188, GBT32188

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GB/T 32188-2015 氮化镓单晶衬底片x射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法 (英文)
标准编号:	GB/T 32188-2015	标准状态:	valid 订阅状态变动提醒电子邮箱:
翻译语言:	英文	实施日期:	2016-11-1

标准编号:	GB/T 32188-2015
中文名称:	氮化镓单晶衬底片x射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法
英文名称:	The method for full width at half maximum of double crystal X-ray rocking curve of GaN single crystal substrate
中标分类:	H21 金属物理性能试验方法
行业分类:	GB 国家标准
ICS分类:	77.040 77.040 金属材料试验 77.040
发布机构:	国家质量监督检验检疫总局、国家标准化管理委员会
发布日期:	2015-12-10
实施日期:	2016-11-1
标准状态:	valid
翻译语言:	英文

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