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| T/ZSA 231-2024 |
氧化镓单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法 |
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valid,,2024-5-16 |
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| YS/T 273.2-2006 |
冰晶石化学分析方法和物理性能测定方法 第2部分: 灼烧减量的测定 |
540.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
to be superseded2026-03-01,2026-3-1,2006-12-1 |
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| YS/T 535.2-2009 |
氟化钠化学分析方法 第2部分 氟含量的测定 蒸馏-硝酸钍滴定容量法 |
800.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
to be superseded,2026-3-1,2010-6-1 |
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| YS/T 581.5-2006 |
氟化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第5部分：火焰原子吸收光谱法测定钠含量 |
500.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
to be superseded,2026-3-1,2006-8-1 |
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| YS/T 581.6-2006 |
氟化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第6部分 钼蓝分光光度法测定二氧化硅含量 |
500.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
to be superseded,2026-3-1,2006-8-1 |
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| YS/T 581.10-2006 |
氟化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第10部分 X射线荧光光谱分析法测定硫含量 |
500.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,2006-8-1 |
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| GB/T 46227-2025 |
半导体单晶材料透过率测试方法 |
980.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
to be valid,,2026-3-1 |
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| GB/T 20831-2025 |
电工钢带(片)绝缘涂层热耐久性测试方法 |
1260.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
to be valid,,2026-3-1 |
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| GB/T 5161-2025 |
金属粉末 有效密度的测定 液体浸透法 |
1260.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
to be valid,,2026-3-1 |
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| GB/T 19444-2025 |
硅片氧沉淀特性的测试 间隙氧含量减少法 |
980.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
to be valid,,2026-1-1 |
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| GB/T 6148-2025 |
精密电阻合金电阻温度系数测试方法 |
980.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,2025-11-1 |
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| GB/T 6147-2025 |
精密电阻合金热电动势率测试方法 |
980.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,2025-11-1 |
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| GB/T 41079.3-2024 |
液态金属物理性能测定方法 第3部分：黏度的测定 |
980.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,2025-5-1 |
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| GB/T 44558-2024 |
III族氮化物半导体材料中位错成像的测试 透射电子显微镜法 |
1260.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,2025-4-1 |
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| GB/T 44371-2024 |
临界弯曲直径测量 液氮温区Bi-2223超导带材的临界弯曲直径测量 |
1470.0 |
付款后 1~5 个工作日 |
valid,,2025-3-1 |
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| GB/T 44330-2024 |
锂离子电池正极材料 粉末压实密度的测定 |
980.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,2025-3-1 |
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| GB/T 24578-2024 |
半导体晶片表面金属沾污的测定 全反射X射线荧光光谱法 |
1470.0 |
付款后 1~5 个工作日 |
valid,,2025-2-1 |
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| GB/T 43894.1-2024 |
半导体晶片近边缘几何形态评价 第1部分：高度径向二阶导数法（ZDD） |
910.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,2024-11-1 |
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| GB/T 8758-1988 |
砷化镓外延层厚度红外干涉测量方法 |
280.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,1989-2-1 |
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| GB/T 6522-1986 |
氧化铝粉末松装密度的测定 |
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付款后 个工作日 |
valid,,1987-5-1 |
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