标准编号:	T/CIE 116-2021
中文名称:	电子元器件故障树分析方法与程序
英文名称:	Fault tree analysis method and procedure of electronic components
中标分类:	L40    半导体分立器件综合
行业分类:	T/    团体标准
ICS分类:	31.080 31.080    半导体器件 31.080
发布机构:	中国电子学会
发布日期:	2021-11-22
标准状态:	valid
翻译语言:	英文

本文件确立了基于失效物理的电子元器件故障树建树方法及故障树分析程序。描述了以故障树为载体的电子元器件故障信息库构建方法。
本文件适用于电子元器件在设计、研制、生产和使用阶段进行故障树建造和失效路径分析，以及电子元器件在设计和应用阶段的潜在失效问题识别，其结果可用于电子元器件的质量归零问题分析、可靠性设计分析和应用风险分析。
本文件方法适用于半导体分立器件、半导体集成电路、混合集成电路、机电元件、印制电路板等电子元器件。