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SJ/T 11394-2009   半导体发光二极管测试方法 (英文版)
标准编号: SJ/T 11394-2009 标准状态:现行 订阅状态变动提醒
译文语言:英文 文件格式:PDF
中文字符数: 24000 字 翻译价格(元):2400.00 元 订阅价格变动提醒
实施日期:2010-1-1 交付时间: 付款后 1~3 个工作日
标准编号: SJ/T 11394-2009
中文名称: 半导体发光二极管测试方法
英文名称: Measure methods of semiconductor light emitting diodes
行业分类: SJ    电子行业标准
发布机构: 中华人民共和国国家经济贸易委员会
发布日期: 2009-11-17
实施日期: 2010-1-1
标准状态: 现行
替代旧标准:SJ/T 2355.1-1983
SJ/T 2355.2-1983
SJ/T 2355.3-1983
SJ/T 2355.4-1983
SJ/T 2355.5-1983
SJ/T 2355.6-1983
SJ/T 2355.7-1983
SJ 2355.2-1983 半导体发光器件测试方法 正向压降的测试方法
SJ 2355.6-1983 半导体发光器件测试方法 光通量的测试方法
SJ 2355.5-1983 半导体发光器件测试方法 法向光强和半强度角的测试方法
SJ 2355.3-1983 半导体发光器件测试方法 反向电流的测试方法
SJ 2355.4-1983 半导体发光器件测试方法 结电容的测试方法
SJ 2355.1-1983 半导体发光器件测试方法 总则
翻译语言: 英文
文件格式: PDF
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SJ/T 11394-2009 引用如下标准:
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