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SJ 2355.2-1983   半导体发光器件测试方法 正向压降的测试方法 (英文版)
标准编号: SJ 2355.2-1983 标准状态:被替代
译文语言:英文 文件格式:PDF
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实施日期:1984-5-1 交付时间: 付款后 1~3 个工作日
标准编号: SJ 2355.2-1983
中文名称: 半导体发光器件测试方法 正向压降的测试方法
英文名称: Method of measurement for forward voltage drop of light-emitting devices
中标分类: F01    技术管理
行业分类: SJ    电子行业标准
ICS分类: 31.260 31.260    光电子学、激光设备 31.260
发布日期: 1983-11-25
实施日期: 1984-5-1
标准状态: 被替代
被新标准替代:SJ/T 11394-2009 半导体发光二极管测试方法
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