GB/T 4937.1-2006 英文版, GB/T 4937.1-2006 半导体器件机械和气候试验第1部分:总则 - GB/T 4937.1-2006, GB 4937.1-2006, GBT 4937.1-2006, GB/T4937.1-2006, GB/T 4937.1, GB/T4937.1, GB4937.1-2006, GB 4937.1, GB4937.1, GBT4937.1-2006, GBT 4937.1, GBT4937.1

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GB/T 4937.1-2006 半导体器件机械和气候试验第1部分:总则 (英文)
标准编号:	GB/T 4937.1-2006	标准状态:	valid 订阅状态变动提醒电子邮箱:
翻译语言:	英文	实施日期:	2007-2-1

标准编号:	GB/T 4937.1-2006
中文名称:	半导体器件机械和气候试验第1部分:总则
英文名称:	Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1 : General
中标分类:	L40 半导体分立器件综合
行业分类:	GB 国家标准
ICS分类:	31.080 31.080 半导体器件 31.080
发布机构:	国家技术监督局
发布日期:	2006-8-23
实施日期:	2007-2-1
标准状态:	valid
替代旧标准:	GB/T 4937-1995 半导体器件机械和气候试验方法
翻译语言:	英文

GB/T 4937.1-2006被如下标准引用：

*GB/T 44924-2024 半导体集成电路射频发射器/接收器测试方法

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