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GB/T 8759-1988   化合物半导体单晶晶向X射线衍射测量方法 (英文)
标准编号: GB/T 8759-1988 标准状态:superseded 订阅状态变动提醒
翻译语言:英文 实施日期:1989-7-1
标准编号: GB/T 8759-1988
中文名称: 化合物半导体单晶晶向X射线衍射测量方法
英文名称: Compound semiconductive single crystals--Determination of crzystallographic orientation--X-ray diffraction method
中标分类: H21    金属物理性能试验方法
行业分类: GB    国家标准
实施日期: 1989-7-1
标准状态: superseded
被新标准替代:GB/T 1555-1997 半导体单晶晶向测定方法
被替代日期:1998-8-1
作废日期:1998-08-01
翻译语言: 英文
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