GB/T 1555-1997 英文版, GB/T 1555-1997 半导体单晶晶向测定方法 - GB/T 1555-1997, GB 1555-1997, GBT 1555-1997, GB/T1555-1997, GB/T 1555, GB/T1555, GB1555-1997, GB 1555, GB1555, GBT1555-1997, GBT 1555, GBT1555

中标分类行业分类 ICS分类最新标准

标准编号:	GB/T 1555-1997
中文名称:	半导体单晶晶向测定方法
英文名称:	Test methods for determining the orientation of a semiconductor single crystal
中标分类:	H21 金属物理性能试验方法
行业分类:	GB 国家标准
ICS分类:	29.045 29.045 半导体材料 29.045
发布机构:	国家技术监督局
发布日期:	1997-01-02
实施日期:	1998-8-1
标准状态:	superseded
被新标准替代:	GB/T 1555-2009 半导体单晶晶向测定方法
被替代日期:	2010-6-1
替代旧标准:	GB 1555-1979 硅单晶晶向光图测量方法 GB 1556-1979 硅单晶晶向X光衍射测量方法 GB 5254-1985 锗单晶晶向X光衍射测定方法 GB 5255-1985 锗单晶晶向光反射图象测定方法 GB 8759-1988 GB/T 8759-1988 化合物半导体单晶晶向X射线衍射测量方法
翻译语言:	英文

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