标准编号:	GB/T 17722-1999
中文名称:	金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法
英文名称:	Gold-plated thickness measurement by SEM
中标分类:	N33    电子光学与其他物理光学仪器
行业分类:	GB    国家标准
ICS分类:	37.020 37.020    光学设备 37.020
发布机构:	国家质量技术监督局
发布日期:	1999-04-01
实施日期:	1999-1-2
标准状态:	to be superseded
被新标准替代:	GB/T 17722-2026 微束分析 金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法
被替代日期:	2026-8-1
翻译语言:	英文

本标准规定了各类金制品的金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法的技术要求，本标准也适用于电子探针仪测量金覆盖层厚度，适用的厚度测量范围为0.2~10um。其他金属材料的覆盖层厚度的测量也可参照执行。