| 标准编号 |
标准名称 |
交付时间 |
标准状态 |
| GB/T 17722-2026 |
微束分析 金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法 |
1~3 个工作日 |
to be valid,,2026-8-1 |
| GB/T 46223-2025 |
微束分析 分析电子显微术 电子能量损失谱能量分辨率的测定方法 |
1~5 个工作日 |
valid,,2026-3-1 |
| GB/T 20726-2025 |
微束分析 扫描电子显微镜（SEM）或电子探针显微分析仪（EPMA）用X射线能谱仪（EDS）主要性能参数及核查方法 |
1~5 个工作日 |
valid,,2026-3-1 |
| T/COEMA 22O-2025 |
光热透镜法弱吸收率测试仪 |
个工作日 |
valid,,2025-3-5 |
| GB/T 43883-2024 |
微束分析 分析电子显微术 金属中纳米颗粒数密度的测定方法 |
1~5 个工作日 |
valid,,2024-11-1 |
| GB/T 43748-2024 |
微束分析 透射电子显微术 集成电路芯片中功能薄膜层厚度的测定方法 |
1~3 个工作日 |
valid,,2024-10-1 |
| GB/T 43610-2023 |
微束分析 分析电子显微术 线状晶体表观生长方向的透射电子显微术测定方法 |
1~5 个工作日 |
valid,,2024-7-1 |
| GB/T 43087-2023 |
微束分析 分析电子显微术 层状材料截面像中界面位置的确定方法 |
1~5 个工作日 |
valid,,2024-4-1 |
| GB/T 42208-2022 |
纳米技术 多相体系中纳米颗粒粒径测量 透射电镜图像法 |
1~3 个工作日 |
valid,,2023-7-1 |
| GB/T 15246-2022 |
微束分析 硫化物矿物的电子探针定量分析方法 |
1~3 个工作日 |
valid,,2023-2-1 |
| GB/T 34831-2017 |
纳米技术 贵金属纳米颗粒电子显微镜成像 高角环形暗场法 |
1~2 个工作日 |
valid,,2018-5-1 |
| GB/T 30543-2014 |
纳米技术 单壁碳纳米管的透射电子显微术表征方法 |
1~3 个工作日 |
valid,,2014-11-1 |
| JB/T 11144-2011 |
X射线衍射仪 |
1~3 个工作日 |
valid,,2012-4-1 |
| JB/T 11145-2011 |
X射线荧光光谱仪 |
1~3 个工作日 |
valid,,2012-4-1 |
| GB/T 26533-2011 |
俄歇电子能谱分析方法通则 |
1~3 个工作日 |
valid,,2011-12-1 |
| JB/T 9400-2010 |
X射线衍射仪 技术条件 |
1~3 个工作日 |
valid,,2010-7-1 |
| GB/T 23414-2009 |
微束分析 扫描电子显微术 术语 |
1~5 个工作日 |
to be superseded,2026-8-1,2009-12-1 |
| GB/T 18151-2008 |
激光防护屏 |
1~5 个工作日 |
superseded,2017-3-1,2009-10-1 |
| GB/T 15247-2008 |
微束分析 电子探针显微分析 测定钢中碳含量的校正曲线法 |
1~3 个工作日 |
valid,,2009-4-1 |
| GB/T 20726-2006 |
半导体探测器X射线能谱仪通则 |
1~3 个工作日 |
superseded,2016-9-1,2007-8-1 |
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