SJ/T 10481-1994 英文版, SJ/T 10481-1994 硅外延层电阻率的面接触三探针测试方法 - SJ/T 10481-1994, SJ 10481-1994, SJT 10481-1994, SJ/T10481-1994, SJ/T 10481, SJ/T10481, SJ10481-1994, SJ 10481, SJ10481, SJT10481-1994, SJT 10481, SJT10481

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SJ/T 10481-1994 硅外延层电阻率的面接触三探针测试方法 (英文)
标准编号:	SJ/T 10481-1994	标准状态:	abolished 订阅状态变动提醒电子邮箱:
翻译语言:	英文	实施日期:	1994-10-1

标准编号:	SJ/T 10481-1994
中文名称:	硅外延层电阻率的面接触三探针测试方法
英文名称:	Test method for resistivity of silicon epitaxial layers by area contacts three-probe techniques
中标分类:	F01 技术管理
行业分类:	SJ 电子行业标准
发布日期:	1994-04-11
实施日期:	1994-10-1
标准状态:	abolished
作废日期:	2010-01-20
翻译语言:	英文

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