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QJ 3044-1998   半导体集成电路数/模转换器和模/数转换器测试方法 (英文)
标准编号: QJ 3044-1998 标准状态:valid 订阅状态变动提醒
翻译语言:英文 实施日期:1998-8-1
标准编号: QJ 3044-1998
中文名称: 半导体集成电路数/模转换器和模/数转换器测试方法
英文名称: Semiconductor Integrated Circuit - Test Method for Digital-to-analog Conventer and Digital-to-analog Converter
中标分类: V2    
行业分类: QJ    航天工业行业标准
ICS分类: 49.060 49.060    航空航天用电气设备与系统 49.060
发布日期: 1998-02-06
实施日期: 1998-8-1
标准状态: valid
替代旧标准:QJ 1525-1988
翻译语言: 英文
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