GB/T 47239.9-2026 英文版, GB/T 47239.9-2026 半导体器件柔性可拉伸半导体器件第9部分：一晶体管一电阻式（1T1R）电阻存储单元性能测试方法 - GB/T 47239.9-2026, GB 47239.9-2026, GBT 47239.9-2026, GB/T47239.9-2026, GB/T 47239.9, GB/T47239.9, GB47239.9-2026, GB 47239.9, GB47239.9, GBT47239.9-2026, GBT 47239.9, GBT47239.9

中标分类行业分类 ICS分类最新标准

GB/T 47239.9-2026 半导体器件柔性可拉伸半导体器件第9部分：一晶体管一电阻式（1T1R）电阻存储单元性能测试方法 (英文)
标准编号:	GB/T 47239.9-2026	标准状态:	to be valid 订阅状态变动提醒电子邮箱:
翻译语言:	英文	实施日期:	2026-9-1

标准编号:	GB/T 47239.9-2026
中文名称:	半导体器件柔性可拉伸半导体器件第9部分：一晶体管一电阻式（1T1R）电阻存储单元性能测试方法
英文名称:	Semiconductor devices—Flexible and stretchable semiconductor devices—Part 9: Performance testing methods of one transistor and one resistor (1T1R) resistive memory cells
行业分类:	GB 国家标准
发布机构:	国家市场监督管理总局;国家标准化管理委员会
发布日期:	2026-02-27
实施日期:	2026-9-1
标准状态:	to be valid
翻译语言:	英文

联系我们

电话:	15101092118
邮箱:	bz@bzfyw.com
QQ:	3675947207
微信:

微信联系客服(限外文翻译服务)

关于我们 | 联系我们

电话：15101092118 | Email: bz@bzfyw.com |

QQ: 3675947207

本页关键词：

GB/T 47239.9-2026, GB 47239.9-2026, GBT 47239.9-2026, GB/T47239.9-2026, GB/T 47239.9, GB/T47239.9, GB47239.9-2026, GB 47239.9, GB47239.9, GBT47239.9-2026, GBT 47239.9, GBT47239.9