GB/T 30701-2014 英文版, GB/T 30701-2014 表面化学分析硅片工作标准样品表面元素的化学收集方法和全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定 - GB/T 30701-2014, GB 30701-2014, GBT 30701-2014, GB/T30701-2014, GB/T 30701, GB/T30701, GB30701-2014, GB 30701, GB30701, GBT30701-2014, GBT 30701, GBT30701

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GB/T 30701-2014 表面化学分析硅片工作标准样品表面元素的化学收集方法和全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定 (英文)
标准编号:	GB/T 30701-2014	标准状态:	valid 订阅状态变动提醒电子邮箱:
翻译语言:	英文	实施日期:	2014-12-1

标准编号:	GB/T 30701-2014
中文名称:	表面化学分析硅片工作标准样品表面元素的化学收集方法和全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定
英文名称:	Surface chemical analysis―Chemical methods for the collection of elements from the surface of silicon-wafer working reference materials and their determination by total-reflection X-ray fluorescence(TXRF) spectroscopy
中标分类:	G04 基础标准与通用方法
行业分类:	GB 国家标准
ICS分类:	71.040.40 71.040.40 化学分析 71.040.40
发布机构:	中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会
发布日期:	2014-06-09
实施日期:	2014-12-1
标准状态:	valid
翻译语言:	英文

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