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GB 5594.8-1985   电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定 (英文)
标准编号: GB 5594.8-1985 标准状态:superseded 订阅状态变动提醒
翻译语言:英文 实施日期:1986-1-2
标准编号: GB 5594.8-1985
中文名称: 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定
英文名称: Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components; Determination of microstructure
中标分类: L32    
行业分类: GB    国家标准
发布机构: 国家标准局
发布日期: 1985-01-01
实施日期: 1986-1-2
标准状态: superseded
被新标准替代:GB/T 5594.8-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分：显微结构的测定方法
被替代日期:2016-1-1
作废日期:2016-01-01
翻译语言: 英文
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