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GB 4937-1985   半导体分立器件机械和气候试验方法 (英文)
标准编号: GB 4937-1985 标准状态:superseded 订阅状态变动提醒
翻译语言:英文 实施日期:1985-11-1
标准编号: GB 4937-1985
中文名称: 半导体分立器件机械和气候试验方法
英文名称: Mechanical and climatic test methods for discrete semiconductor devices
中标分类: L40    半导体分立器件综合
行业分类: GB    国家标准
实施日期: 1985-11-1
标准状态: superseded
被新标准替代:GB/T 4937-1995 半导体器件机械和气候试验方法
被替代日期:1996-8-1
翻译语言: 英文
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