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YS/T 1160-2016   工业硅粉定量相分析 二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法 (英文)
标准编号: YS/T 1160-2016 标准状态:valid 订阅状态变动提醒
翻译语言:英文 实施日期:2017-1-1
标准编号: YS/T 1160-2016
中文名称: 工业硅粉定量相分析 二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法
英文名称: Silicon powder-quantitative phase analysis. Determination of silicon dioxide content. Value K method of X-ray diffraction
行业分类: YS    有色金属行业标准
发布机构: 中华人民共和国工业和信息化部
发布日期: 2016-07-11
实施日期: 2017-1-1
标准状态: valid
翻译语言: 英文
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