T/IAWBS 016-2022 英文版, T/IAWBS 016-2022 碳化硅单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法 - T/IAWBS 016-2022, T/IAWBST 016-2022, TIAWBST 016-2022, T/IAWBS016-2022, T/IAWBS 016, T/IAWBS016, T/IAWBST016-2022, T/IAWBST 016, T/IAWBST016, TIAWBST016-2022, TIAWBST 016, TIAWBST016

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T/IAWBS 016-2022 碳化硅单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法 (英文版)
标准编号:	T/IAWBS 016-2022	标准状态:	valid 订阅状态变动提醒电子邮箱:
译文语言:	英文	文件格式:	PDF
中文字符数:		翻译价格(元):	订阅价格变动提醒电子邮箱:
实施日期:	2022-3-24	交付时间:

标准编号:	T/IAWBS 016-2022
中文名称:	碳化硅单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法
行业分类:	T/ 团体标准
ICS分类:	29.045 29.045 半导体材料 29.045
发布机构:	中关村天合宽禁带半导体技术创新联盟
发布日期:	2022-03-17
实施日期:	2022-3-24
标准状态:	valid
翻译语言:	英文
文件格式:	PDF

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