标准编号:	T/CIE 155-2023
中文名称:	非易失性相变存储器电性能测试方法
英文名称:	Measuring methods of electrical properties for non-volatile phase change memory
中标分类:	L56    半导体集成电路
行业分类:	T/    团体标准
ICS分类:	31.200 31.200    集成电路、微电子学 31.200
发布机构:	中国电子学会
发布日期:	2023-03-20
标准状态:	valid
翻译语言:	英文
文件格式:	PDF
中文字符数:	25000 字
翻译价格(元):	1750.0
交付时间:	付款后 1~5 个工作日

本文件规定了相变存储器件单元的电性能测试方法，分为器件性能测试和器件可靠性测试，器件性能测试包括电流-电压特性、存储窗口、置位时间、置位电压、复位时间、复位电压、功耗；器件可靠性测试包括耐久和数据保持时间。
本文件适用于相变存储器件单元。