SJ 2327-1983 英文版, SJ 2327-1983 低温试验设备通用技术条件 - SJ 2327-1983, SJ/T 2327-1983, SJT 2327-1983, SJ2327-1983, SJ 2327, SJ2327, SJ/T2327-1983, SJ/T 2327, SJ/T2327, SJT2327-1983, SJT 2327, SJT2327

中标分类行业分类 ICS分类最新标准

标准编号:	SJ 2327-1983
中文名称:	低温试验设备通用技术条件
英文名称:	Generic specification for low temperature test chambers
中标分类:	C01 技术管理
行业分类:	SJ 电子行业标准
发布机构:	电子工业部
发布日期:	1983-4-11
实施日期:	1983-10-1
标准状态:	valid
翻译语言:	英文

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