标准编号:	GB/T 34002-2017
中文名称:	微束分析 透射电子显微术 用周期结构标准物质校准图像放大倍率的方法
英文名称:	Microbeam analysis―Analytical transmission electron microscopy―Methods for calibrating image magnification by using reference materials having periodic structures
中标分类:	G04    基础标准与通用方法
行业分类:	GB    国家标准
ICS分类:	71.040.40 71.040.40    化学分析 71.040.40
发布机构:	中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:	2017-07-12
实施日期:	2018-6-1
标准状态:	valid
翻译语言:	英文

本标准规定了透射电镜（TEM）在很大放大倍率范围内所记录的图像的校准方法。用于校准的标准物质具有周期性结构，例如衍射光栅复型、半导体的超点阵结构或 X 射线分析的分光晶体以及碳、金或硅的晶体晶格像。 本标准适用于记录在照相胶片上、或成像板上、或数字相机内置传感