GB 11114-1989 英文版, GB 11114-1989 人造石英晶体位错X射线形貌检测方法 - GB 11114-1989, GB/T 11114-1989, GBT 11114-1989, GB11114-1989, GB 11114, GB11114, GB/T11114-1989, GB/T 11114, GB/T11114, GBT11114-1989, GBT 11114, GBT11114

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GB 11114-1989 人造石英晶体位错X射线形貌检测方法 (英文)
标准编号:	GB 11114-1989	标准状态:	abolished 订阅状态变动提醒电子邮箱:
翻译语言:	英文	实施日期:	1990-3-1

标准编号:	GB 11114-1989
中文名称:	人造石英晶体位错X射线形貌检测方法
英文名称:	for detecting dislocations of synthetic quartz crystal using X-ray topographic technique
中标分类:	L90 电子技术专用材料
行业分类:	GB 国家标准
ICS分类:	31.020 31.020 电子元件综合 31.020
发布机构:	国家质量技术监督局
发布日期:	1989-3-22
实施日期:	1990-3-1
标准状态:	abolished
作废日期:	2017-12-15
替代旧标准:	公告：国家标准公告2017年第31号
翻译语言:	英文

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