YS/T 15-1991 英文版, YS/T 15-1991 硅外延层和扩散层厚度测定磨角染色法 - YS/T 15-1991, YS 15-1991, YST 15-1991, YS/T15-1991, YS/T 15, YS/T15, YS15-1991, YS 15, YS15, YST15-1991, YST 15, YST15

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YS/T 15-1991 硅外延层和扩散层厚度测定磨角染色法 (英文版)
标准编号:	YS/T 15-1991	标准状态:	superseded 订阅状态变动提醒电子邮箱:
译文语言:	英文	文件格式:	PDF
中文字符数:	6000 字	翻译价格(元):	500.0 订阅价格变动提醒电子邮箱:
实施日期:	1992-6-1	交付时间:	付款后 1~3 个工作日

标准编号:	YS/T 15-1991
中文名称:	硅外延层和扩散层厚度测定磨角染色法
英文名称:	Thcikness determination for silicon epitaxial layer and difussion layer - Angle lap-stain method
中标分类:	H82 元素半导体材料
行业分类:	YS 有色金属行业标准
ICS分类:	29.045 29.045 半导体材料 29.045
实施日期:	1992-6-1
标准状态:	superseded
被新标准替代:	YS/T 15-2015 硅外延层和扩散层厚度测定磨角染色法
被替代日期:	2015-10-1
翻译语言:	英文
文件格式:	PDF
中文字符数:	6000 字
翻译价格(元):	500.0
交付时间:	付款后 1~3 个工作日

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