T/CIE 151-2022 英文版, T/CIE 151-2022 现场可编程门阵列（FPGA）芯片动态老化试验方法 - T/CIE 151-2022, T/CIET 151-2022, TCIET 151-2022, T/CIE151-2022, T/CIE 151, T/CIE151, T/CIET151-2022, T/CIET 151, T/CIET151, TCIET151-2022, TCIET 151, TCIET151

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T/CIE 151-2022 现场可编程门阵列（FPGA）芯片动态老化试验方法 (英文)
标准编号:	T/CIE 151-2022	标准状态:	valid 订阅状态变动提醒电子邮箱:
翻译语言:	英文	实施日期:

标准编号:	T/CIE 151-2022
中文名称:	现场可编程门阵列（FPGA）芯片动态老化试验方法
行业分类:	T/ 团体标准
发布机构:	中国电子学会
标准状态:	valid
翻译语言:	英文

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