SJ 2214.9-1982 英文版, SJ 2214.9-1982 半导体光敏二、三极管脉冲上升、下降时间的测试方法 - SJ 2214.9-1982, SJ/T 2214.9-1982, SJT 2214.9-1982, SJ2214.9-1982, SJ 2214.9, SJ2214.9, SJ/T2214.9-1982, SJ/T 2214.9, SJ/T2214.9, SJT2214.9-1982, SJT 2214.9, SJT2214.9

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SJ 2214.9-1982 半导体光敏二、三极管脉冲上升、下降时间的测试方法 (英文)
标准编号:	SJ 2214.9-1982	标准状态:	superseded 订阅状态变动提醒电子邮箱:
翻译语言:	英文	实施日期:	1983-7-1

标准编号:	SJ 2214.9-1982
中文名称:	半导体光敏二、三极管脉冲上升、下降时间的测试方法
英文名称:	Method of measurement for pulse rise and fall time of semiconductor photodiodes and phototransistors
中标分类:	M01 技术管理
行业分类:	SJ 电子行业标准
发布机构:	电子工业部
发布日期:	1982-11-30
实施日期:	1983-7-1
标准状态:	superseded
被新标准替代:	SJ/T 2214-2015 半导体光电二极管和光电晶体管测试方法
被替代日期:	2015-10-1
作废日期:	2015-10-01
翻译语言:	英文

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