SJ 21347-2018 英文版, SJ 21347-2018 低温器件与组件极低温度筛选试验方法 - SJ 21347-2018, SJ/T 21347-2018, SJT 21347-2018, SJ21347-2018, SJ 21347, SJ21347, SJ/T21347-2018, SJ/T 21347, SJ/T21347, SJT21347-2018, SJT 21347, SJT21347

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SJ 21347-2018 低温器件与组件极低温度筛选试验方法 (英文)
标准编号:	SJ 21347-2018	标准状态:	valid 订阅状态变动提醒电子邮箱:
翻译语言:	英文	实施日期:

标准编号:	SJ 21347-2018
中文名称:	低温器件与组件极低温度筛选试验方法
英文名称:	Cryogenic screening test method for cryogenic device and assembly
行业分类:	SJ 电子行业标准
标准状态:	valid
翻译语言:	英文

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