SJ 21343-2018 英文版, SJ 21343-2018 微波元器件低温环境下S参数测试方法 - SJ 21343-2018, SJ/T 21343-2018, SJT 21343-2018, SJ21343-2018, SJ 21343, SJ21343, SJ/T21343-2018, SJ/T 21343, SJ/T21343, SJT21343-2018, SJT 21343, SJT21343

中标分类行业分类 ICS分类最新标准

SJ 21343-2018 微波元器件低温环境下S参数测试方法 (英文)
标准编号:	SJ 21343-2018	标准状态:	valid 订阅状态变动提醒电子邮箱:
翻译语言:	英文	实施日期:	2018-5-1

标准编号:	SJ 21343-2018
中文名称:	微波元器件低温环境下S参数测试方法
英文名称:	Measuring methods for microwave components and devices's scattering parameter at cryogenic temperature
行业分类:	SJ 电子行业标准
发布日期:	2018-01-18
实施日期:	2018-5-1
标准状态:	valid
翻译语言:	英文

联系我们

电话:	15101092118
邮箱:	bz@bzfyw.com
QQ:	3675947207
微信:

微信联系客服(限外文翻译服务)

关于我们 | 联系我们

电话：15101092118 | Email: bz@bzfyw.com |

QQ: 3675947207

本页关键词：

SJ 21343-2018, SJ/T 21343-2018, SJT 21343-2018, SJ21343-2018, SJ 21343, SJ21343, SJ/T21343-2018, SJ/T 21343, SJ/T21343, SJT21343-2018, SJT 21343, SJT21343