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SJ 2065-1982   半导体器件生产用扩散炉测试方法 (英文)
标准编号: SJ 2065-1982 标准状态:valid 订阅状态变动提醒
翻译语言:英文 实施日期:1982-7-1
标准编号: SJ 2065-1982
中文名称: 半导体器件生产用扩散炉测试方法
英文名称: Testing method for diffusion furnace for semiconductor device manufacturing
中标分类: C01    技术管理
行业分类: SJ    电子行业标准
发布机构: 中华人民共和国工业和信息化部
发布日期: 1982-02-18
实施日期: 1982-7-1
标准状态: valid
翻译语言: 英文
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