SJ 1551-1979 英文版, SJ 1551-1979 硅外延层电阻率测试方法(电容-电压法)(暂行) - SJ 1551-1979, SJ/T 1551-1979, SJT 1551-1979, SJ1551-1979, SJ 1551, SJ1551, SJ/T1551-1979, SJ/T 1551, SJ/T1551, SJT1551-1979, SJT 1551, SJT1551

中标分类行业分类 ICS分类最新标准

标准编号:	SJ 1551-1979
中文名称:	硅外延层电阻率测试方法(电容-电压法)(暂行)
英文名称:	Method of measurement for resistivity of silicon epitaxial layer (capacitance-voltage method) (Provisional)
中标分类:	H81 半金属
行业分类:	SJ 电子行业标准
发布机构:	中华人民共和国第四机械工业部
发布日期:	1980-03-01
实施日期:	1980-6-1
标准状态:	abolished
作废日期:	2010-02-01
翻译语言:	英文

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