GB/T 5252-2006 英文版, GB/T 5252-2006 锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法 - GB/T 5252-2006, GB 5252-2006, GBT 5252-2006, GB/T5252-2006, GB/T 5252, GB/T5252, GB5252-2006, GB 5252, GB5252, GBT5252-2006, GBT 5252, GBT5252

中标分类行业分类 ICS分类最新标准

标准编号:	GB/T 5252-2006
中文名称:	锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法
英文名称:	Germanium monocrystal - inspection of dislocation etch pit density
中标分类:	H21 金属物理性能试验方法
行业分类:	GB 国家标准
ICS分类:	77.040.01 77.040.01 金属材料试验综合 77.040.01
发布机构:	中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会
发布日期:	2006-7-18
实施日期:	2006-11-1
标准状态:	abolished
被新标准替代:	GB/T 5252-2020 锗单晶位错密度的测试方法
被替代日期:	2021-5-1
作废日期:	2021-04-01
替代旧标准:	GB/T 5252-1985 锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法
翻译语言:	英文

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