GB/T 11685-2003 英文版, GB/T 11685-2003 半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法 - GB/T 11685-2003, GB 11685-2003, GBT 11685-2003, GB/T11685-2003, GB/T 11685, GB/T11685, GB11685-2003, GB 11685, GB11685, GBT11685-2003, GBT 11685, GBT11685

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GB/T 11685-2003 半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法 (英文)
标准编号:	GB/T 11685-2003	标准状态:	valid 订阅状态变动提醒电子邮箱:
翻译语言:	英文	实施日期:	2004-1-1

标准编号:	GB/T 11685-2003
中文名称:	半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法
英文名称:	Measurement procedures for semiconductor X-ray detector system and semiconductor X-ray energy spectrometers
中标分类:	F80 核仪器与核探测器综合
行业分类:	GB 国家标准
ICS分类:	27.120.01 27.120.01 核能综合 27.120.01
发布机构:	国防科学技术工业委员会
发布日期:	2003-07-07
实施日期:	2004-1-1
标准状态:	valid
替代旧标准:	GB/T 8992-1988 硅(锂)X射线探测器系统测试方法 GB/T 11685-1989 半导体X射线能谱仪的测试方法
翻译语言:	英文

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