SJ 1551-1979 英文版, SJ 1551-1979 硅外延层电阻率测试方法(电容-电压法)(暂行) - SJ 1551-1979, SJ/T 1551-1979, SJT 1551-1979, SJ1551-1979, SJ 1551, SJ1551, SJ/T1551-1979, SJ/T 1551, SJ/T1551, SJT1551-1979, SJT 1551, SJT1551

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SJ 1551-1979 硅外延层电阻率测试方法(电容-电压法)(暂行) (英文版)
标准编号:	SJ 1551-1979	标准状态:	abolished 订阅状态变动提醒电子邮箱:
译文语言:	英文	文件格式:	PDF
中文字符数:	10000 字	翻译价格(元):	1140.0 订阅价格变动提醒电子邮箱:
实施日期:	1980-6-1	交付时间:	付款后 1~3 个工作日

标准编号:	SJ 1551-1979
中文名称:	硅外延层电阻率测试方法(电容-电压法)(暂行)
英文名称:	Method of measurement for resistivity of silicon epitaxial layer (capacitance-voltage method) (Provisional)
中标分类:	H81 半金属
行业分类:	SJ 电子行业标准
发布机构:	中华人民共和国第四机械工业部
发布日期:	1980-03-01
实施日期:	1980-6-1
标准状态:	abolished
作废日期:	2010-02-01
翻译语言:	英文
文件格式:	PDF
中文字符数:	10000 字
翻译价格(元):	1140.0
交付时间:	付款后 1~3 个工作日

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