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GB/T 34326-2017   表面化学分析 深度剖析 AES和XPS深度剖析时离子束对准方法及其束流或束流密度测量方法 (英文)
标准编号: GB/T 34326-2017 标准状态:superseded 订阅状态变动提醒
翻译语言:英文 实施日期:2018-8-1
标准编号: GB/T 34326-2017
中文名称: 表面化学分析 深度剖析 AES和XPS深度剖析时离子束对准方法及其束流或束流密度测量方法
英文名称: Surface chemical analysis - Depth profiling - Methods for ion beam alignment and the associated measurement of current or current density for depth profiling in AES and XPS
中标分类: G04    基础标准与通用方法
行业分类: GB    国家标准
ICS分类: 71.040.40 71.040.40    化学分析 71.040.40
发布机构: 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期: 2017-09-29
实施日期: 2018-8-1
标准状态: superseded
被新标准替代:GB/T 34326-2026 表面化学分析 深度剖析 AES和XPS深度剖析时离子束对准方法及其束流或束流密度的测量方法
被替代日期:2026-8-1
翻译语言: 英文
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