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GB 6801-1986   半导体器件基准测试方法 (英文)
标准编号: GB 6801-1986 标准状态:superseded 订阅状态变动提醒
翻译语言:英文 文件格式:PDF
标准编号: GB 6801-1986
中文名称: 半导体器件基准测试方法
英文名称: Reference methods of measurement for semiconductor devices
中标分类: L40    半导体分立器件综合
行业分类: GB    国家标准
实施日期: 1987-7-1
标准状态: superseded
被新标准替代:GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管
翻译语言: 英文
文件格式: PDF
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