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| T/SZAA 002-2024 |
车身域控制器通用功率驱动装置测试规程 |
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付款后 个工作日 |
valid,,2024-11-30 |
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| GB/T 44807.1-2024 |
集成电路电磁兼容建模 第1部分：通用建模框架 |
3780.0 |
付款后 1~5 个工作日 |
valid,,2024-10-26 |
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| GB/T 44806.1-2024 |
集成电路 收发器的EMC评估 第1部分：通用条件和定义 |
770.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,2024-10-26 |
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| GB/T 44801-2024 |
系统级封装（SiP）术语 |
1470.0 |
付款后 1~5 个工作日 |
valid,,2024-10-26 |
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| GB/T 44798-2024 |
复杂集成电路设计保证指南 |
1470.0 |
付款后 1~5 个工作日 |
valid,,2024-10-26 |
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| GB/T 44795-2024 |
系统级封装（SiP）一体化基板通用要求 |
1750.0 |
付款后 1~5 个工作日 |
valid,,2024-10-26 |
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| GB/T 44777-2024 |
知识产权（IP）核保护指南 |
1470.0 |
付款后 1~5 个工作日 |
valid,,2024-10-26 |
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| GB/T 43034.2-2024 |
集成电路 脉冲抗扰度测量 第2部分: 同步瞬态注入法 |
2030.0 |
付款后 1~5 个工作日 |
valid,,2024-10-26 |
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| GB/T 42968.2-2024 |
集成电路 电磁抗扰度测量 第2部分：辐射抗扰度测量 TEM小室和宽带TEM小室法 |
2030.0 |
付款后 1~5 个工作日 |
valid,,2024-10-26 |
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| GB/T 20870.4-2024 |
半导体器件 第16-4部分：微波集成电路 开关 |
2030.0 |
付款后 1~5 个工作日 |
valid,,2024-10-26 |
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| GB/T 42744-2023 |
微波电路 电调衰减器测试方法 |
1680.0 |
付款后 1~5 个工作日 |
valid,,2024-3-1 |
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| GB/T 43034.3-2023 |
集成电路 脉冲抗扰度测量 第3部分：非同步瞬态注入法 |
2030.0 |
付款后 1~5 个工作日 |
valid,,2024-1-1 |
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| GB/T 42974-2023 |
半导体集成电路 快闪存储器（FLASH） |
1190.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,2024-1-1 |
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| GB/T 42975-2023 |
半导体集成电路 驱动器测试方法 |
1750.0 |
付款后 1~5 个工作日 |
valid,,2024-1-1 |
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| GB/T 42973-2023 |
半导体集成电路 数字模拟（DA）转换器 |
2310.0 |
付款后 1~5 个工作日 |
valid,,2024-1-1 |
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| GB/T 42970-2023 |
半导体集成电路 视频编解码电路测试方法 |
2030.0 |
付款后 1~5 个工作日 |
valid,,2024-1-1 |
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| GB/T 42969-2023 |
元器件位移损伤试验方法 |
770.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,2024-1-1 |
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| GB/T 42968.8-2023 |
集成电路 电磁抗扰度测量 第8部分：辐射抗扰度测量 IC带状线法 |
1470.0 |
付款后 1~5 个工作日 |
valid,,2024-1-1 |
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| GB/T 42968.1-2023 |
集成电路 电磁抗扰度测量 第1部分：通用条件和定义 |
1470.0 |
付款后 1~5 个工作日 |
valid,,2024-1-1 |
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| GB/T 20870.5-2023 |
半导体器件 第16-5部分：微波集成电路 振荡器 |
2310.0 |
付款后 1~5 个工作日 |
valid,,2024-1-1 |
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