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| DB23/T 1796-2016 |
超级电容器测试仪技术要求 |
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付款后 个工作日 |
valid,,2016-10-7 |
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| GB 11250.3-1989 |
复合金属覆镍层厚度的测定-容量法 |
140.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2005-10-14 ,,1990-1-1 |
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| GB 11250.4-1989 |
复合金属覆层厚度的测定 重量法 |
140.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2005-10-14 ,,1990-1-1 |
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| GB 1772-1979 |
电子元器件失效率试验方法 |
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付款后 个工作日 |
abolished2005-10-14,,1980-3-1 |
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| GB 2470-1981 |
电子设备用电阻器 电容器型号命名方法 |
200.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
superseded,1996-8-1,1981-10-1 |
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| GB 2471-1981 |
电子设备用电阻器的标称阻值系列和固定电容器的标称容量系列及其允许偏差系列 |
300.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
superseded,1996-8-1,1981-10-1 |
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| GB 2691-1981 |
电阻器 电容器标志内容与标志方法 |
800.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
superseded,1995-8-1,1982-1-1 |
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| GB 2775-1981 |
电子件轴端型式及尺寸 |
800.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
superseded,1993-8-1,1982-5-1 |
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| GB 5076-1985 |
具有两个轴向引出端的圆柱体元件的尺寸测量 |
300.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,1985-12-1 |
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| GB 5078-1985 |
单向引出的电容器和电阻器所需空间的测定方法 |
300.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,1985-12-1 |
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| GB 5095.1-1985 |
电子设备用机电件基本试验规程及测量方法 第一部分:总则 |
700.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
superseded,1998-10-1,1985-11-1 |
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| GB/T 11250.1-1989 |
复合金属覆层厚度的测定 金相法 |
720.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2005-10-14 ,,1990-1-1 |
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| GB/T 11250.2-1989 |
复合金属覆层厚度的测定 Χ荧光法 |
720.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2005-10-14 ,,1990-1-1 |
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| GB/T 26125-2011 |
电子电气产品 六种限用物质（铅、汞、镉、六价铬、多溴联苯和多溴二苯醚）的测定 |
330.0 |
付款后 1 个工作日 |
valid,,2011-8-1 |
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| GB/T 26572-2011 |
电子电气产品中限用物质的限量要求 |
290.0 |
付款后 1 个工作日 |
valid,,2011-8-1 |
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| GB/T 29783-2013 |
电子电气产品中六价铬的测定 原子荧光光谱法 |
800.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,2014-2-1 |
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| GB/T 29784.1-2013 |
电子电气产品中多环芳烃的测定 第1部分：高效液相色谱法 |
720.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,2014-2-1 |
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| GB/T 29784.2-2013 |
电子电气产品中多环芳烃的测定 第2部分: 气相色谱-质谱法 |
720.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,2014-2-1 |
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| GB/T 29784.3-2013 |
电子电气产品中多环芳烃的测定 第3部分：液相色谱-质谱法 |
720.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,2014-2-1 |
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| GB/T 29784.4-2013 |
电子电气产品中多环芳烃的测定 第4部分：气相色谱法 |
720.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,2014-2-1 |
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